隨著工業(yè)的發(fā)展和對外開放與技術(shù)合作的需要，中國對表面粗糙度的研究和標準化愈來愈被科技和工業(yè)界所重視， 為迅速改變國內(nèi)表面粗糙度方面的術(shù)語和概念不統(tǒng)一的局面，并達到與統(tǒng)一的作用，中國等效采用標準化組織（ISO）有關(guān)的標準制訂了GB3505-1983《表面粗糙度術(shù)語表面及其參數(shù)》。GB3505專門對有關(guān)表面粗糙度的表面及其參數(shù)等術(shù)語作了規(guī)定，其中有三個部分共27個參數(shù)術(shù)語：

a. 與微觀不平度高度特性有關(guān)的表面粗糙度參數(shù)術(shù)語。其中定義的常用術(shù)語為：輪廓算術(shù)平均偏差Ra、 輪廓均方根偏差Rq、輪廓高度_maxRy和微觀不平度十點高度Rz等11個參數(shù)。

b. 與微觀不平度間距特性有關(guān)的表面粗糙度參數(shù)術(shù)語。其中有輪廓微觀不平度的平均間距Sm、輪廓峰密度D、輪廓均方根波長lq以及輪廓的單峰平均間距S等共9個參數(shù)。

c. 與微觀不平度形狀特性有關(guān)的表面粗糙度參數(shù)術(shù)語。這其中有輪廓偏斜度Sk、 輪廓均方根斜率Dq和輪廓支承長度率tp等共5個參數(shù)。

3.精密加工表面性能評價的內(nèi)容及其迫切性表面粗糙度參數(shù)這一概念開始提出時就是為了研究零件表面和其性能之間的關(guān)系。

4.表面粗糙度理論的新進展。表面形貌評定的核心在于特征信號的無失真提取和對使用性能的量化評定，國內(nèi)外學(xué)者在這一方面做了大量工作，提出了許多分離與重構(gòu)方法。隨著當今微機處理技術(shù)、集成電路技術(shù)、機電一體化技術(shù)等的發(fā)展，出現(xiàn)了用分形法、Motif法、功能參數(shù)集法、時間序列技術(shù)分析法、擬合法、濾波法等各種評定理論與方法，取得了顯著進展，下面對相對而言比較成熟的分形法、 Motif法、特定功能參數(shù)集法進行介紹。表面粗糙度儀（光潔度）的國家標準主要術(shù)語及定義。

本資料給出的參數(shù)符合GB/T3505-2000《產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范表面結(jié)構(gòu) 輪廓法 表面結(jié)構(gòu)的述語、定義及參數(shù)》、符合GB/T6062-2002《產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范（GPS）表面結(jié)構(gòu) 輪廓法接觸（觸針）式儀器的標稱特性》

技術(shù)術(shù)語

（1）表面粗糙度：取樣長度L

取樣長度是用于判斷和測量表面粗糙度時所規(guī)定的一段基準線長度，它在輪廓總的走向上取樣。

（2）表面粗糙度：評定長度Ln

由于加工表面有著不同程度的不均勻性，為了充分合理地反映某一表面的粗糙度特性，規(guī)定在評定時所必須的一段表面長度，它包括一個或數(shù)個取樣長度，稱為評定長度Ln。

（3）表面粗糙度：輪廓中線（也有叫曲線平均線）M

輪廓中線M是評定表面粗糙度數(shù)值的基準線。

評定參數(shù)

國家規(guī)定表面粗糙度的參數(shù)由高度參數(shù)、間距參數(shù)和綜合參數(shù)組成。

表面粗糙度高度參數(shù)共有三個：

（1）輪廓算術(shù)平均偏差Ra ：

在取樣長度L內(nèi)，I輪廓偏距I的算術(shù)平均值。

（2）微觀不平度十點高度Rz

在取樣長度L內(nèi)輪廓峰高_max的平均值與五個輪廓谷深_max的平均值之和。

（3）輪廓高度_maxRy

在取樣長度內(nèi)，輪廓峰頂線和輪廓谷底線之間的距離。

表面粗糙度間距參數(shù)共有兩個：

（4）輪廓單峰平均間距S

兩相鄰輪廓單峰高點_max在中線上的投影長度Si，稱為輪廓單峰間距，在取樣長度L內(nèi)，輪廓單峰間距的平均值，就是輪廓單峰平均間距。

（5）輪廓微觀不平度的平均間距Sm

含有一個輪廓峰和相鄰輪廓谷的一段中線長度Smi，稱輪廓微觀不平間距。

表面粗糙度綜合參數(shù)：

（6）輪廓支承長度率tp

輪廓支承長度率就是輪廓支承長度np與取樣長度L之比。